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SuperViewW光學非接觸式粗糙度3D輪廓儀采用白光干涉技術,結合具有抗噪性能的3D重建算法,具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內,確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
中圖儀器SuperViewW系列0.1nm分辨率白光干涉光學輪廓儀能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸,主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。
中圖儀器SuperViewW光學3D輪廓儀粗糙度在線檢測設備基于白光干涉原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,以3D非接觸方式測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。
SuperViewW廣東光學3D輪廓儀表面粗糙度檢測儀器基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
中圖儀器SuperViewW多模式三維光學輪廓儀提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能和自動拼接測量、定位自動多區域測量功能。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。
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