CHOTEST中圖儀器國產(chǎn)光柵測長機采用的高精度光柵式大量程接觸式測量方式，具有精度高、操作便攜、穩(wěn)定性強、功能齊全實用等優(yōu)點，是一種很好的長度測量方式。

產(chǎn)品描述

采用進口高精度光柵測量系統(tǒng)、高精密研磨直線導軌、高精度溫度補償系統(tǒng)、雙向恒測力系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術，通過高精密研磨導軌保證測量頭座移動的高穩(wěn)定性及超高直線度，采用進口高精度光柵測量系統(tǒng)記錄長度方向坐標，由計算機將光柵數(shù)據(jù)與測力裝置、溫度傳感器的反饋數(shù)據(jù)及阿貝誤差數(shù)據(jù)修正后進行數(shù)據(jù)合成（由于導軌較高的直線度，因此阿貝修正造成的儀器誤差小）。按被測件參數(shù)的相關定義及公式進行分析，計算獲得相關長度參數(shù)。整個測量過程不超過3分鐘，結束后自動生成結果及記錄報表。

CHOTEST中圖儀器國產(chǎn)光柵測長機通用性強，能夠測量及檢定精密量具、精密量規(guī)，如塊規(guī)、環(huán)塞規(guī)、卡規(guī)、螺紋規(guī)、花鍵規(guī)、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸，如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規(guī)等。

儀器主要功能

1、標配功能：

檢測量塊&塊規(guī)：（0.1~300mm）；

光滑環(huán)規(guī)：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞規(guī)：φ1~φ220mm；

螺紋環(huán)規(guī)：M5~M200（螺距0.8~4mm）

螺紋塞規(guī)：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；

光滑卡規(guī)：內卡5~200mm，外卡1~300mm

千分尺校對桿：25~300mm；

塞尺：0.02~1mm

針規(guī)：φ0.1~φ10mm

三針：0.118~6.585mm；

兩點內徑千分尺：25~300mm；

2、可選配功能：

小型光滑環(huán)規(guī)：φ0.8~φ5mm；

螺紋環(huán)規(guī)：規(guī)格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；

光滑錐度環(huán)規(guī)：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；

光滑錐度塞規(guī)：φ5~φ60mm（長度10~100mm）；φ60~φ200mm（長度≤50mm）；

螺紋錐度環(huán)規(guī)：M5~M200mm（厚度≤50mm）；

螺紋錐度塞規(guī)：M5~M60mm（長度10~100mm）；M60~M200mm（長度≤50mm）；

鋸齒螺紋、梯形螺紋：M3~M400（螺距0.5~6mm）；

花鍵環(huán)塞規(guī)/花鍵及標準齒輪（跨棒距測量）：內φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模數(shù)0.8~6mm；

外徑千分尺示值誤差手動校準：25~300mm；

數(shù)顯及游標卡尺示值誤差手動校準：75~300mm；

深度千分尺示值誤差手動校準：0~25、25~50、50~75mm；

三爪內徑千分尺手動校準：φ6~φ200mm；

表類（百分表、千分表、杠桿表手動校準）；

數(shù)顯半徑規(guī)手動校準：R5~R700mm；

軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸，內外徑尺寸測量；

儀器特點

1、高精度、高穩(wěn)定性：

1.高精度光柵測量系統(tǒng)，分辨力達到0.01μm，測量精度高；

2.精密研磨導軌系統(tǒng)導軌直線度高，材料耐磨性好、保證系統(tǒng)高精度穩(wěn)定可靠的工作；

3.進口特殊材料制作的高剛性、無變形測桿，保證測試數(shù)據(jù)的高精度真實采集；

4.采用大理石基座，通過有限元分析優(yōu)化儀器基座結構保障幾十年穩(wěn)定不變形，高剛性大理石底座結構保證了儀器在頭座及工作臺在測量移動過程中幾乎不產(chǎn)生變形，儀器受外界震動干擾小，保證儀器的長期穩(wěn)定可靠性；

5.采用緊湊型摩擦驅動結構，移動摩擦驅動力小，保證了頭座移動過程中的穩(wěn)定性。

2、方便快捷的儀器操作體驗：

1.測帽無需調節(jié)，高精度測帽加工保障測量精度，直接安裝即可使用；

2.螺紋塞規(guī)測量三針帶支板，配合儀器測帽可快速的進行螺紋塞規(guī)的中徑測量；

3.支持客戶使用模糊搜索量規(guī)標準，并支持用戶特殊規(guī)格量規(guī)自動計算公差帶。

3、雙向恒測力：

1.特殊傳感器雙向恒測力系統(tǒng)，減小了測力對測量結果的影響，保證了高的系統(tǒng)測量精度；

2.測力較大范圍的連續(xù)可調；

3.非砝碼加載，測力傳感器原理避免了儀器臺面不水平及周圍環(huán)境振動帶來的測力誤差。

主要技術指標